Z低共熔點(diǎn)是針對(duì)一次干燥階段而言的，這個(gè)階段處于壓力較小的真空狀態(tài) ，對(duì)于水來(lái)說(shuō) ，壓力 降低熔點(diǎn)是上升的 ，所 以說(shuō)Z低共熔點(diǎn)通常要比共晶點(diǎn)高。
因此，升華階段制品溫度可以接近甚至超過(guò)共晶點(diǎn)溫度，不高于Z低共熔點(diǎn)即可，這在一定程度上可以適當(dāng)縮短一次干燥的時(shí)間。
共晶點(diǎn)的測(cè)定有電阻測(cè)定法、熱差分析測(cè)定法、凍干顯微鏡直接觀察、數(shù)字公式計(jì)算測(cè)定。
標(biāo)準(zhǔn)的共熔點(diǎn)測(cè)量法是將一對(duì)白金電J浸入液體產(chǎn)品之中，并在產(chǎn) 品中插一溫度計(jì)，把它們冷卻到-40°C以下的低溫，然后將凍結(jié)產(chǎn)品慢慢升溫。用電橋來(lái)測(cè)量其電阻，當(dāng)發(fā)生電阻突然降低時(shí) ，這時(shí)的溫度即為產(chǎn)品的共晶點(diǎn)。
電橋要用交流電供電， 因?yàn)橹绷麟姇?huì)發(fā)生電解作用，整個(gè)過(guò)程由儀表記錄。此外， 還可以在預(yù)凍階段通過(guò)視窗來(lái)觀察制品性狀的變化來(lái)獲得共晶點(diǎn) 。
當(dāng)制品開(kāi)始結(jié)冰的時(shí)候 ，浸入制品中的電熱偶所探測(cè)到的溫度會(huì) 突然 回升 ，這是因?yàn)榻Y(jié)冰過(guò)程的放熱現(xiàn)象所造成的 。這時(shí)候所記錄的溫度就大致接 近于共晶點(diǎn)溫度。
